MINI SEM A5100 — компактный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом, 20x~150000x
Компактный MINI SEM A5100 предназначен для функциональной диагностики широкого спектра соединений и материалов, элементного анализа соединений, кристаллов, минералов и материалов, определения фазового и фракционного состава различных композитных материалов, кристаллических осадков, керамик, исследование морфологии поверхностей различных кристаллов и материалов с высоким разрешением и увеличением.
- Разрешение: 5нм@З0кВ (BSE),
- Увеличение: 20x – 150 000X
- Размер образца: 80 мм,
- Ускоряющее напряжение: 1-30кВ
- Стандартный X/Y/R 3-осевой столик образца, опционально: 5-осевой рабочий столик образца X/Y/Z/R/T
- 2-ступенчатая электромагнитная конденсорная линза, 1-ступенчатый электромагнитный объектив
- Вакуумная система: 1 Турбомолекулярный насос + 1 Форвакуумный насос
- Авто старт, Авто фокус, Авто яркость/контраст
- Разрешение: 5нм@З0кВ (BSE),
- Увеличение: 20x – 150 000X
- Размер образца: 80 мм,
- Ускоряющее напряжение: 1-30кВ
- Стандартный X/Y/R 3-осевой столик образца, опционально: 5-осевой рабочий столик образца X/Y/Z/R/T
- 2-ступенчатая электромагнитная конденсорная линза, 1-ступенчатый электромагнитный объектив
- Вакуумная система: 1 Турбомолекулярный насос + 1 Форвакуумный насос
- Авто старт, Авто фокус, Авто яркость/контраст
|
Разрешение |
5нм при 30кВ(BSE) |
|
Увеличение |
20x~150000x |
|
Электронная пушка |
Предварительно центрированный вольфрамовый катодный узел, автоматическое управление током пучка |
|
Напряжение |
Ускоряющее напряжение от 1KV до 30KV, 1KV/5KV/10KV/15KV/20KV/30KV-6 Steps |
|
Система линз |
Двухступенчатый электромагнитный конденсор, объективная электромагнитная линза |
|
Диафрагма |
Сменные диафрагмы 30/50/50/100мкм, для получения изображений высокого разрешения |
|
Вакуумная Система |
Форвакуумный насос, 100 литров/минуту Турбомолекулярный насос, 70 литров/сек, Время откачки <3 минут Полностью автоматизированное управление откачки вакуума |
|
Детекторы |
SE: Детектор вторичных электронов BSE: Детектор обратно отраженных электронов (Опция) |
|
Рабочий столик образца |
3-осевой столик образца с ручным приводом. Диапазон перемещений: X=40мм, Y=40мм, R=360° |
|
|
5-осевой столик образца с ручным приводом (Опция) Диапазон перемещений: X=40мм, Y=40мм, Z=40мм, R=360°, T=-0°~+90°(Механическое) |
|
Размеры столика образца |
Диаметр: 80мм, Высота: 30мм |
|
Смещение Изображения |
X, Y Смещение изображения ±150мм |
|
Система сканирования изображения |
Быстрое сканирование: 320x240 (Время сканирования: 0.1 sec.) Медленное сканирование: 640x480 (Время сканирования: 3 sec.) Фото Режим 1: 1280x960, Фото Режим 2: 2560x1920 Фото Режим 3: 5120x3840 |
|
Формат Изображения |
BMP, JPEG, PNG, TIFF |
|
Автоматические Функции |
Авто Старт, Авто Фокус, Авто Яркость/Контраст |
|
Отображение информации |
Увеличение, тип детектора, ускоряющее напряжение, вакуумный режим, логотип (текст), дата и время, текстовый маркер, шкала. |
|
Компьютер и Программное обеспечение |
PC рабочая станция Win 10, с профессиональным программным обеспечением для обработки изображений для всестороннего контроля управления сканирующим электронным микроскопом Требования к компьютеру: не хуже Intel I5 3.2GHz, 4G оперативная память, 24" IPS LCD Monitor, 500G Жесткий диск, мышь, клавиатура. |
|
Size & Weight |
Консоль микроскопа 460x600x950мм, Общий вес 95кг |
|
A7000, A7001 Стандартный |
комплект инструментов и запасных частей |
Ответим на вопросы
Заказ обратного звонока
Не нашли нужного оборудования?
Подберем аналоги!
Наши специалисты подберут аналоги, проконсультируют и помогут в приобретении и модернизации.
С Вашей помощью наши специалисты определят конфигурацию оборудования и методы исследования, и подберут оптимальные решения для Ваших задач.
Перезвоните нам:
+7 495 109-23-21
или оставьте заявку
Оставить заявкуКонтакты- Оборудование
- Оборудование DataPhysics
- Анализ теплофизических свойств
- Микрофлюидика
- Термический анализ / Калориметрия
- Оборудование для нефтехимии
- Геохимическое оборудование
- Трибометры и машины трения
- Электронные микроскопы
- Оптические микроскопы Leica
- Физика поверхностей
- Дифрактометры
- Спектрометры
- ЯМР-Релаксометрия
- Микротомография
- Атомайзеры
- Оборудование KRUSS
- Автоклавные реакторы
- Измерители теплофизических свойств
- hypercore
- Пробоподготовка
- Оборудование Brookfield
- О компании
- Заказчикам
- Партнеры
- Контакты
- НОВОСТИ




















