Электронная пробоподготовка
Электронная пробоподготовка образцов является обязательным этапом при проведении исследований с использованием сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии (SEM и TEM). От качества подготовки напрямую зависит разрешение, контраст и достоверность получаемых результатов.
Современное оборудование для электронной пробоподготовки позволяет выполнять ионную полировку, вакуумное напыление проводящих покрытий, механическую и крио-подготовку образцов. Такие технологии применяются в материаловедении, металлографии, микроэлектронике, биологии и научных исследованиях.
В данном разделе представлены профессиональные системы электронной пробоподготовки образцов для лабораторий различного профиля. Оборудование подбирается с учётом типа материала, требований к микроскопии и специфики исследовательских задач. Специалисты Fianum Lab помогают подобрать оптимальное решение и обеспечить комплексную поддержку на всех этапах внедрения.

Установка электролитического полирования и травленияBuehler PoliMat 2
для электролитического полирования и травления

Установка электролитического полирования и травленияBuehler ElectroMet 4
для электролитического полирования и травления

УльтрамикротомLeica Enuity
для разрезания биологических образцов на очень тонкие срезы

Универсальная система механической подготовки образцовLeica EM TXP
позволяет выполнить все этапы механической пробоподготовки на едином инструменте

Трехлучевая система ионного травленияLeica EM TIC 3X
обеспечивает прецизионную подготовку поверхности широкого класса материалов

Устройство напыления образцовLeica EM ACE900
уникальная высоковакуумная криогенная система напыления

Устройство напыления образцовLeica EM ACE600
Система вакуумного нанесения проводящих покрытий

Устройство напыления образцовLeica EM ACE200
позволяет наносить проводящие защитные покрытия тонких слоев металла

Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливкиLeica EM AFS2
позволяет проводить сублимационное замещение жидкости и последовательное понижения температуры

УльтрамикротомLeica ARTOS 3D
для приготовления срезов при комнатной температуре и криогенных условиях

Cистема переноса образцов в криогенных и вакуумных условияхLeica EM VCT500
для приготовления срезов при комнатной температуре и криогенных условиях

Автоматическая система заморозкиLeica EM ICE
Позволяет проводить крио-иммобилизацию образцов без предварительной фиксации

Система погружной заморозкиLeica EM GP2
Используется для пробоподготовки белков, клеток, полимерных и других чувствительных материалов.

Автоматизированный тканевой процессорLeica EM TP
предназначен для фиксации и дегидратации образцов для последующих исследований методами электронной (EM) и световой (LM) микроскопии.

Прибор для изготовления стеклянных ножейLeica EM KMR3
позволяет получать превосходные стеклянные ножи для приготовления высококачественных тонких срезов

Автоматическая система контрастированияLeica EM AC20
автоматизирует окрашивание образцов для исследований методами электронной микроскопии

УльтрамикротомLeica EM UC7 / FC7
для получения срезов при комнатной температуре и криогенных условиях.

Cушка в критической точкеLeica EM CPD300
позволяет проводить подготовку хрупких биологических и промышленных образцов
Популярное оборудование для электронной пробоподготовки
- Leica EM ACE600 — компактная система вакуумного напыления для SEM и TEM
- Leica EM ACE900 — профессиональная установка напыления для электронной микроскопии
- Leica EM TIC 3X — трёхионная полировка образцов для TEM
- Leica Enuity — ионная полировка образцов для электронной микроскопии
- Polimat 2 — система электронной пробоподготовки образцов
Комплексная пробоподготовка образцов
Перед электронной микроскопией образцы проходят этапы прецизионной резки, запрессовки и шлифовки и полировки, что обеспечивает высокую точность исследований.
Ответим на вопросы
Заказ обратного звонока
Не нашли нужного оборудования?
Подберем аналоги!
Наши специалисты подберут аналоги, проконсультируют и помогут в приобретении и модернизации.
С Вашей помощью наши специалисты определят конфигурацию оборудования и методы исследования, и подберут оптимальные решения для Ваших задач.
Перезвоните нам:
+7 495 109-23-21
или оставьте заявку
Оставить заявкуКонтакты- Оборудование
- Оборудование DataPhysics
- Анализ теплофизических свойств
- Микрофлюидика
- Термический анализ / Калориметрия
- Оборудование для нефтехимии
- Геохимическое оборудование
- Трибометры и машины трения
- Электронные микроскопы
- Оптические микроскопы Leica
- Физика поверхностей
- Дифрактометры
- Спектрометры
- ЯМР-Релаксометрия
- Микротомография
- Атомайзеры
- Оборудование KRUSS
- Автоклавные реакторы
- Измерители теплофизических свойств
- hypercore
- Пробоподготовка
- Оборудование Brookfield
- О компании
- Заказчикам
- Партнеры
- Контакты
- НОВОСТИ