Просвечивающий микроскоп

Nano TEM 200

Запросить стоимость
Просвечивающий микроскоп Nano TEM 200

Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ и термополевым катодом Шоттки.

Разработан для выполнения научных и производственных задач, обеспечивая высокое разрешение и производительность. Позволяет получать детализированные изображения в просвечивающем режиме и в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM).

Просвечивающие микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM — Transmission Electron Microscope) предназначен для получения изображения с использованием проходящего через образец пучка электронов. Этот метод позволяет исследовать структуру материалов на наноуровне, что востребовано в материаловедении, биологии, нанотехнологиях и полупроводниковой промышленности.

Принцип работы ПЭМ

При взаимодействии электронов с образцом формируется изображение, которое фиксируется детектором. Этот метод позволяет изучать кристаллическую структуру, дефекты, границы зерен и фазовые переходы.

Конструкция и компоненты ПЭМ

  • Вакуумная система: удаляет воздух, снижая частоту столкновений электронов с газами.
  • Гониометр: управляет положением образца в процессе анализа.
  • Источник электронов: электронная пушка формирует пучок электронов.
  • Система линз и апертур: регулирует фокусировку и направление пучка.
  • Детектор: фиксирует изображение и передает его на цифровую камеру.

Вакуумная система

Обеспечивает минимальное давление (до 10⁻⁴ Па), необходимое для корректной работы микроскопа. Включает:

  • Форвакуумные насосы (мембранные, роторные);
  • Высоковакуумные насосы (турбомолекулярные, диффузионные);
  • Гетероионные насосы (для создания сверхвысокого вакуума в электронной пушке
  • У скоряющее напряжение: 200 кВ (настройка на 80 кВ и 200 кВ).
  • Полностью цифровая система с возможностью оснащения режимом STEM, держателем для криообразцов, системой автоматизированной томографии и EDS-спектрометром.
  • Источник электронов: термополевой катод Шоттки с током зонда ≥ 1,5 нА/1 нм и максимальным током пучка ≥ 50 нА при 200 кВ.
  • Линейное разрешение: 0,23 нм, предельное – 0,2 нм.
  • Увеличение: от 20x до 1 500 000x.
  • Вакуум: в электронной пушке < 1x10⁻⁶ Па, в колонне < 5x10⁻⁵ Па.
  • Полностью эксцентричный гониометр с 5-осевым моторизованным столиком.
  • CMOS-камера EMSIS XAROSA 5120x3840, расположенная снизу.
  • Держатель для образцов с двойным наклоном CompuStage.
  • Обучение эксплуатации и практическое обучение на месте (3 дня).

 

Оптическая система с высоким разрешением

  • STEM-визуализация в режиме реального времени с разрешением на уровне нанометров.
  • Скорость 25 кадров в секунду (размер кадра 2k×2k).
  • Полностью автоматический сбор данных.

Прямой детектор электронов

  • Использование технологии RAVIIS-300 для высокой чувствительности.
  • Эффективность детектирования свыше 80%.
  • Улучшенное соотношение сигнал/шум.

Гибкое переключение между режимами

  • Быстрое переключение между широкоугольной и высокодетализированной визуализацией.
  • Точная идентификация и позиционирование наночастиц.

Высокоточная механическая платформа

  • Движение без вибраций с точностью позиционирования до 1 мкм.

Оптимизированная система для анализа микрочастиц

  • Увеличенное поле зрения по сравнению с традиционными ПЭМ.
  • Разработана на основе полупроводниковых технологий для высокой пропускной способности.

Автоматическая юстировка электронного пучка

  • Полная автоматизация настройки.
  • Интеллектуальная система коррекции и навигации.
  • Искусственный интеллект для автоматического обнаружения и позиционирования образцов.