Измеритель толщины <br>тонких пленок

Измеритель толщины
тонких пленок

AF-3000

Запросить стоимость

характеристики
Модель AF-T050 AF-T010 AF-T001 AF-T100 AF-X010
Диапазон длины волны 400-850nm 250-1050nm 190-1100nm 900-1700nm 250-1700nm (2200nm)
Диапазон измеряемой толщины 50nm-100µm 10nm-100µm 1nm-100µm 100nm-250µm 10nm up to 250µm
Разрешающая способность 0.01nm 0.01nm 0.01nm 0.01nm 0.01nm
Точность измерения 0.2%&1nm 0.2%&1nm 0.2%&1nm 0.5%&2nm 0.5%&1nm
Повторяемость 0.1nm 0.1nm 0.1nm 0.3nm 0.2nm
Стабильность 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.1nm 0.08nm
Угол падения 90°
Количество измеряемых слоёв 10 слоев
Измерение показателя преломления Возможно измерить
Измеряемые материалы Прозрачные или полупрозрачные материалы
Метод измерения Отражение (Рефлектометрия)
Измерение шероховатых материалов Возможно измерить
Частота сбора данных онлайн 100ms~1s
Рабочее расстояние Стандартно: 1,5–3 мм, максимум до 50 мм (необходимо дополнительное оборудование)
Размер светового пятна 100µm или 200µm или 400µm
Функция картографирования Поддерживается (необходимо дополнительное оборудование)
Индивидуальная настройка под клиента Кастомизация ПО и АО в соответствии с требованиями заказчика

Производитель

Подробнее о бренде