Спектрометр тонкой структуры рентгеновского поглощения

SmartXAFS

Запросить стоимость
Спектрометр тонкой структуры рентгеновского поглощения

Спектрометр SmartXAFS для анализа тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) имеет уникальную конструкцию с неподвижным источником рентгеновского излучения и подвижным кристаллом и детектором для съёма данных.

Прибор обладает высокой чувствительностью к локальной структуре атомов, особенно в пределах 0.1 нм, и их химическому окружению, обеспечивая детальную атомную структурную информацию.

ПРЕИМУЩЕСТВА
  • Керамическая рентгеновская трубка с высокой интенсивностью и стабильностью, возможность переключения между точечным и линейным фокусом.
  • Автоматическая дисперсионная щель и система подавления рассеяния воздуха значительно уменьшают рассеяние на малых углах и усиливают интенсивность при высоких углах.
  • Детектор линейного массива без тёмного тока и шумов, с высокой чувствительностью и быстротой съёма.
  • Высокоточный гониометр с автоматической коррекцией угловых отклонений.
  • Программное обеспечение для сбора и анализа данных (IQual) с автоматическим режимом.
  • Автоматический пробоотборник на 90 образцов.
  • Разнообразие конфигураций пробоотбора.
  • Замена источника — простая, возможен выбор жидкометаллической мишени для работы на высоких энергиях
  • Поддержка функций SAXS, XRD, PDF снижает стоимость лаборатории
  • Высокоточная многокоординатная система управления движением повышает энергоразрешение и повторяемость измерений
  • Интеллектуальное ПО автоматизирует работу, использует продвинутые алгоритмы обработки данных
  • Самостоятельно разработанные монохроматоры из кристаллов кремния/германия обеспечивают точный выбор длины волны и подавление фонового шума
характеристики
Энергетический диапазон XAFS Mo: 4.5 – 18 кэВ
Ag: 4.5 – 20 кэВ
Pd: 4.5 – 22 кэВ
Жидкий металл до 50 кэВ
Разрешение по энергии ≤ 0.5 – 1.5 эВ
Повторяемость режима XAFS ≤ 30 мэВ°
Источник поддержка различных мишеней, напряжение до 60 кВ, ток до 40 мА, мощность
≥ 2.2 кВт
Монохроматор кристаллы Si/Ge высокой чистоты
Углы Брэгга 55° – 85°
Детектор кремниевый дрейфовый SDD детектор высокой точности
Пробоотборник автоматический, 10 позиций

Производитель

Подробнее о бренде