сканирующий микроскоп
WIN SEM A8000

В избранноеВ сравнение

Поделитьeeeся

В избранноеВ сравнение

Поделитьeeeся

сканирующий микроскоп
WIN SEM A8000

Бренд
Модел	WIN SEM A8000
Тип	сканирующий микроскоп

Гарантия
2 года

Авторизованный
сервисный центр

Полный цикл
пусконаладки

Обучение
персонала

В наличии

Сроки поставки уточните у менеджера

ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

Бесплатная консультация

Подберем необходимую комплектацию под ваши задачи инженера

Подобрать решение Загрузить конкурентное КП

Подберем дешевле

WIN SEM A8000 — сканирующий электронный микроскоп с термополевым катодом типа Шоттки, 1x ~ 2.000.000x

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) A8000, оснащенный электронной пушкой с термополевым катодом типа Шоттки (Schottky FEG), является универсальным высокоразрешающим микроскопом для широкого круга исследуемых материалов. В электронно-оптической колонне микроскопа используется технология ускорительной трубки для уменьшения аберраций и обеспечения высокого пространственного разрешения в том числе и при очень малых ускоряющих напряжениях, что важно при работе с диэлектрическими и чувствительными к электронному облучению материалами.

Пространственное разрешение: 1,0 нм при 30кВ (SE), 1,5 нм при 1 кВ (SE)
Диапазон увеличения:
1x ~ 2.000.000x
Источник электронов: термополевой катод типа Шоттки

A8000 в базовой конфигурации укомплектован двумя детекторами вторичных электронов: классическим детектором Эверхарта-Торнли (ETD SED), а также внутрилинзовым детектором вторичных электронов (InLens SED), установленным на оптической оси электронной колонны микроскопа. Дополнительно на микроскоп могут быть установлены твердотельные полупроводниковые детекторы обратно-рассеянных электронов (BSE) и детектор для режима сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM). Возможность детектирования различных электронных сигналов позволяет получать как данные о морфологии поверхности образца, так и информацию о его внутренней структуре. Кроме того микроскоп опционально может быть оснащен аналитическими приставками для анализа химического элементного состава и кристаллографии, исследования оптических и электрических свойств, проведения механических и температурных испытаний.

Графен с пористой листовой структурой

полимерные микросферы

электрод из оксида кремния

Пиксель дисплея

частицы углерода

Массив фоторезиста на подложке

Катодные материалы

бумажное волокно

Цюин пыльца

Сенсиллы усиков жука-оленя

Структура поверхности листьев камфоры

оксид титана

Технологии

Совершенная система детектирования

Одновременный сбор сигнала от двух типов детекторов вторичных электронов (SE), обратно-рассеянных электронов (BSE), и детектора сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM).
Одновременное отображение морфологии и материального контраста для наиболее полного и всестороннего исследования формы поверхности и структуры образца.

Интуитивный и дружественный интерфейс пользователя

Ясное и не перегруженное расположение элементов управления
Множество интерлоков для безопасного управления микроскопом
Эргономичная работа с клавиатурой
Простое управление, доступное как новичкам, так и экспертам в микроскопии

Мощная и универсальная аналитическая платформа

Модульный дизайн и масштабируемая архитектура, позволяют проводить дооснащение микроскопа в течение всего срока эксплуатации
Специальные решения от сторонних поставщиков аналитического оборудования доступны по запросу пользователя
Множество портов и интерфейсов для подключения различных дополнительных приставок, таких как: EDS, EBSD, WDS, CL, испытательных столиков, и прочего оборудования

Технические характеристики

Пространственное разрешение: 1,0 нм при 30кВ (SE), 1,5 нм при 1 кВ (SE)
Диапазон увеличения: 1x ~ 2.000.000x
Источник электронов: термополевой катод типа Шоттки
Ускоряющее напряжение: 20 В ~ 30 кВ
Ток электронного пучка: 1 пА ~ 20 нА
Вакуумная система: 1 ионный геттерный насос, 1 турбомолекулярный насос, 1 форвакуумный насос
Детекторы: SE (InLens) внутрилинзовый, SE (ETD) в вакуумной камере, BSE, CCD
Дополнительные порты: Порты на вакуумной камере для установки дополнительных детекторов и приставок BSE, EDS, EBSD, CL...
Координатный стол: 5-осевой полностью моторизованный, Диапазон перемещения: X=125 мм, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360°, T=-5°~+70°
Максимальный размер образца: Внутренний диаметр камеры 330 мм, Высота 260 мм
Размер получаемых изображений: 256 x 256 ~ 16k х 16k пикселей
Управление микроскопом: Компьютер под управлением ОС Windows, профессиональное ПО для анализа изображений и управления микроскопом, мышь, клавиатура, панель управления.
Габариты и вес: Основная консоль микроскопа: 1900x1100x1800 мм, 800 кг

Дополнительные опции

A8000 Чистка ионным пучком

Технологии электронно-оптической колонны

Термополевой источник электронов, обеспечивающий высокую стабильность тока эмиссии пучка, высокое пространственное разрешение.
Электронно-оптическая колонна с ускорительной трубка для обеспечения высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях.
Комбинированная неиммерсионная объективная линза, состоящая из электромагнитной и электростатической линз, обеспечивает отсутствие магнитного поля снаружи объектива, что позволяет проводить съемку даже сильно намагниченных образцов.

Производитель

Подробнее о бренде

Ответим на вопросы

Мы поможем вам подобрать и купить необходимое оборудование для лаборатории. ГК ФИАНУМЛАБ работает с производителями напрямую, потому у нас объективные цены на всю продукцию и устройства!

+7 495 109-23-21

info@fianum-lab.com

Запросить информацию о продукте

Если у вас есть вопросы, заполните форму ниже. Наши консультанты свяжутся с вами для обсуждения деталей.