Просвечивающий микроскоп
Nano TEM 50

В избранноеВ сравнение

Поделитьeeeся

В избранноеВ сравнение

Поделитьeeeся

Просвечивающий микроскоп
Nano TEM 50

_	предназначен для решения широкого спектра задач, включая изучение вирусных частиц, контроль безопасности банков клеток для вакцинного производства, а также исследования в области клинической патологии и нейробиологии.
Модел	Nano TEM 50
Тип	Просвечивающий микроскоп

Гарантия
2 года

Авторизованный
сервисный центр

Полный цикл
пусконаладки

Обучение
персонала

В наличии

Сроки поставки уточните у менеджера

ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

Бесплатная консультация

Подберем необходимую комплектацию под ваши задачи инженера

Подобрать решение Загрузить конкурентное КП

Подберем дешевле

Просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 200 кВ и термополевым катодом Шоттки.

Разработан для выполнения научных и производственных задач, обеспечивая высокое разрешение и производительность. Позволяет получать детализированные изображения в просвечивающем режиме и в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM).

Просвечивающие микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, TEM — Transmission Electron Microscope) предназначен для получения изображения с использованием проходящего через образец пучка электронов. Этот метод позволяет исследовать структуру материалов на наноуровне, что востребовано в материаловедении, биологии, нанотехнологиях и полупроводниковой промышленности.

Принцип работы ПЭМ

При взаимодействии электронов с образцом формируется изображение, которое фиксируется детектором. Этот метод позволяет изучать кристаллическую структуру, дефекты, границы зерен и фазовые переходы.

Конструкция и компоненты ПЭМ

Вакуумная система: удаляет воздух, снижая частоту столкновений электронов с газами.
Гониометр: управляет положением образца в процессе анализа.
Источник электронов: электронная пушка формирует пучок электронов.
Система линз и апертур: регулирует фокусировку и направление пучка.
Детектор: фиксирует изображение и передает его на цифровую камеру.

Вакуумная система

Обеспечивает минимальное давление (до 10⁻⁴ Па), необходимое для корректной работы микроскопа. Включает:

Форвакуумные насосы (мембранные, роторные);
Высоковакуумные насосы (турбомолекулярные, диффузионные);
Гетероионные насосы (для создания сверхвысокого вакуума в электронной пушке

У скоряющее напряжение: 200 кВ (настройка на 80 кВ и 200 кВ).
Полностью цифровая система с возможностью оснащения режимом STEM, держателем для криообразцов, системой автоматизированной томографии и EDS-спектрометром.
Источник электронов: термополевой катод Шоттки с током зонда ≥ 1,5 нА/1 нм и максимальным током пучка ≥ 50 нА при 200 кВ.
Линейное разрешение: 0,23 нм, предельное – 0,2 нм.
Увеличение: от 20x до 1 500 000x.
Вакуум: в электронной пушке < 1x10⁻⁶ Па, в колонне < 5x10⁻⁵ Па.
Полностью эксцентричный гониометр с 5-осевым моторизованным столиком.
CMOS-камера EMSIS XAROSA 5120x3840, расположенная снизу.
Держатель для образцов с двойным наклоном CompuStage.
Обучение эксплуатации и практическое обучение на месте (3 дня).

Оптическая система с высоким разрешением

STEM-визуализация в режиме реального времени с разрешением на уровне нанометров.
Скорость 25 кадров в секунду (размер кадра 2k×2k).
Полностью автоматический сбор данных.

Прямой детектор электронов

Использование технологии RAVIIS-300 для высокой чувствительности.
Эффективность детектирования свыше 80%.
Улучшенное соотношение сигнал/шум.

Гибкое переключение между режимами

Быстрое переключение между широкоугольной и высокодетализированной визуализацией.
Точная идентификация и позиционирование наночастиц.

Высокоточная механическая платформа

Движение без вибраций с точностью позиционирования до 1 мкм.

Оптимизированная система для анализа микрочастиц

Увеличенное поле зрения по сравнению с традиционными ПЭМ.
Разработана на основе полупроводниковых технологий для высокой пропускной способности.

Автоматическая юстировка электронного пучка

Полная автоматизация настройки.
Интеллектуальная система коррекции и навигации.
Искусственный интеллект для автоматического обнаружения и позиционирования образцов.

Ответим на вопросы

Мы поможем вам подобрать и купить необходимое оборудование для лаборатории. ГК ФИАНУМЛАБ работает с производителями напрямую, потому у нас объективные цены на всю продукцию и устройства!

+7 495 109-23-21

info@fianum-lab.com

Запросить информацию о продукте

Если у вас есть вопросы, заполните форму ниже. Наши консультанты свяжутся с вами для обсуждения деталей.