Сканирующий микроскоп

NANO SEM3000

Запросить стоимость

NANO SEM3000 — это продвинутый сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом, который применяется для определения толщины покрытий и наблюдения наноразмерных микроструктур. Увеличение этого продукта может достигать 1 000 000 раз, а разрешение лучше 3 нм, большая камера для образцов диаметром 370 мм.

  • Разрешение: 3нм@З0кВ (SE),
  • Увеличение: 10x – 1 000 000X
  • Размер образца: 100 мм,
  • Ускоряющее напряжение: 0,2-30кВ
  • Минимальное разрешение: 3 нм;
  • Максимальный размер образца: 260 X 240, мм
  • 5-осевой моторизованный рабочий столик образца

Шарики сварки

Ацетилтриэтилцитрат

Оксид лития-кобальта

Волос，@ 3 kV

Поверхность из полиэстера, @1 kV

Дефекты поверхности трубки，@1 kV

Большая камера образцов

Винт

Технические характеристики

Электроннооптическая система

  • Разрешение — 3 нм @ 30 кВ
  • Увеличение — 1 x～ 1 000,000 x
  • Ускоряющее напряжение — 0.6 кВ～30 кВ
  • Электронная пушка — центрированный картридж с вольфрамовым катодом

Изображение

  • Детектор (стандартно) — Высоковакуумный детектор вторичныйх электроно（SED）
  • Детектор (опция) — BSE, EDS, EBSD, WDS
  • Изображение — ≤ 6144 x 4096 пикселей
  • Формат изображений — TIFF, JPG, BMP, PNG

Координатный стол

  • Способ управления — автоматический клапан
  • Турбомолекулярный насос — 240 л/сек
  • Форвакуумный насос — 12 m3/h (50 Hz)
  • Камера — оптическая навигация / Мониторинг в камере проб
  • Вакуум в камере образца — более 9×10-4 Pa при высоком вакууме

5-осевой моторизованный (стандарт)

  • Расстояние — X: 60 мм Y: 70 мм Z: 65 мм, R : 360
  • Макс. размер образца — Φ: 370 мм，H: 68 мм

5-осевой моторизованный увеличенный столик (опция)

  • Расстояние — X: 100 мм Y: 110 мм Z: 65 мм / R: -180°～ +180° / T: -10°～ +75°
  • Макс. размер образца — Φ: 370 мм, H: 60 мм

Программное обеспечение

  • Язык — английский
  • Система управления — Windows
  • Навигация — оптическая навигация, быстрая навигация жестами
  • Автоматическая функция — автоматическая контрастность яркости, автофокус
  • Специальная функция — динамический астигматизм

Требования к монтажу

  • Габариты — L≥ 3000 мм，W ≥ 4000 мм，H ≥ 2300 мм
  • Размер дверного проема — W ≥ 900 мм，H ≥ 2000 мм
  • Температура — 20 ℃～25 ℃
  • Влажность — ≤ 50 %
  • Электропитание — AC 220 В (±10 %),50 Гц,2 кВА
  • Заземление —＜4 Ω
  • Переменный ток — ＜ 100 nT 10 Размер Вес Д 920 мм，Ш 830 мм，В1650 мм 500 кг

Габариты

  • Размер — 920х830х1600 мм
  • Вес — 500 кг
Масштабируемость

Сканирующий электронный микроскоп используется не только для наблюдения топографии поверхности, но и для анализа компонентов микроплощади на поверхности образца. NANO SEM3000 имеет большую камеру для образцов с богатыми интерфейсами. В дополнение к поддержке обычных детекторов вторичных электронов (SED), детекторов обратно отраженных электронов (BSED) и рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (EDS), он также поддерживает множество интерфейсов, таких как дифракция обратно отраженных электронов (EBSD), длина волны рентгеновского излучения дисперсионный спектрометр (WDS) и катодолюминесцентный спектрометр (CL).

BSED, SE

На изображении с обратным отражением электронов эффект заряда образца явно ослаблен, и он имеет хороший контраст состава, что подходит для наблюдения за составом.

Загрязнения на металлических поверхностях

Металлическое покрытие

Материалы для зубных имплантатов

EDS и SE

SE и EDS результаты анализа цементных строительных материалов, ускоряющее напряжение 15 кВ.

Загрязнения на металлических поверхностях

* Элемент AU представляет собой слой покрытия после напыления золота

Производитель

Подробнее о бренде