Конфокальный микроскоп Olympus LEXT OLS5100

Конфокальный микроскоп
Olympus LEXT OLS5100

Запросить стоимость

Olympus LEXT OLS5100 — высокоточный конфокальный 3D-микроскоп для анализа поверхности, микрогеометрии и износа материалов.

Позволяет получать трёхмерную визуализацию поверхности и проводить точные измерения профиля. Он сочетает в себе исключительную точность измерений, превосходные оптические характеристики и «умные» функции, оптимизирующие рабочий процесс. Точное измерение формы и шероховатости поверхности на субмикронном уровне упрощает рабочий процесс и гарантирует достоверность данных. С помощью этого клонфокального лазерного сканирующего микроскопа можно легко создавать бесконтактные, неразрушающие 3D-наблюдения и измерения.
Основные области применения:

В конфокальном микроскопе Nexcope NCF1000 доступны все основные методы оптической микроскопии для визуализации как окрашенных, так и прозрачных объектов:

  • Материаловедение;
  • Приборостроение и микроэлектроника;
  • Геометрические измерения;
  • Измерение шероховатостей и отклонения формы;
  • Криминалистика.
Конфигурации:

OLS5100-SAF (линейные измерения сшитых изображений, моторизованный XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 100 мм),
OLS5100-SMF (ручной XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 40 м), OLS5100-LAF (моторизованный XY-столик 300x300 мм, макс. высота образца 37 мм),
OLS5100-EAF (линейные измерения сшитых изображений, моторизованный XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 210 мм).

Благодаря возможности выполнять точные трехмерные измерения на широком диапазоне типов образцов, система предоставляет надежные данные для обеспечения качества и технологического контроля. Фиолетовый лазер 405 нм и специальные светосильные объективы позволяют фиксировать мелкие узоры и дефекты, которые обычные оптические микроскопы, интерферометры белого света или микроскопы на основе красного лазера не могут обнаружить.

Специальные объективы LEXT способны с высокой точностью выполнять измерения на периферийных зонах, которые зачастую искажаются. Оптическая система Olympus уменьшает аберрацию для правильного захвата формы вашего образца по всему полю зрения. Технология 4K сканирования поддерживает разрешающую способность 4 096 пикселей. Микроскоп OLS5100 может выявлять почти вертикальные уклоны, а также мельчайшие возвышения без необходимости коррекции изображения. Поскольку в обычных лазерных микроскопах используются стандартные методы обработки изображений (такие как сглаживание, для устранения шума) иногда вместе с шумом могут быть удалены точно измеренные незначительные перепады высоты.

Микроскоп OLS5100 использует алгоритм Olympus Smart Judge для автоматического обнаружения только достоверной информации, облегчая точные измерения без потери данных о перепадах высоты. Система оснащена автоматическим сбором данных, поэтому сложные настройки больше не нужны. Даже с минимальным обучением пользователь может получить точные результаты.

Все операции и процедуры, включенные в отчет, могут быть сохранены в виде шаблона. Использование этого шаблона при повторении тех же измерений позволяет получить отчет об анализе следующего набора данных, который применяет те же процедуры. Возможность задавать операции обработки и точки измерения без вмешательства оператора обеспечивает быстрый и точный анализ с минимальными отклонениями.

Удлиняемая рама для микроскопа OLS5100 вмещает образцы высотой до 210 мм, а объектив с очень большим рабочим расстоянием облегчает измерение вогнутостей до 25 мм. В обоих случаях, все что от вас требуется — это поместить образец на предметный столик.

Основные особенности конфокального лазерного сканирующего 3D-микроскопа Olympus LEXT OLS5100:

• двухканальная система лазерного сканирования;
• способность вмещать образцы величиной до 210 мм;
• исследование вогнутых поверхностей на глубину до 25 мм;
• измеряемая высота по оси Z — от 6 нм;
• латеральное разрешение изображения в лазерном режиме — 120 нм;
• возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
• разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования — 4096 × 4096 точек;
• возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.

У нас можно купить Olympus LEXT OLS5100 конфокальный лазерный сканирующий 3D-микроскоп с доставкой по России и низкой ценой на ремонт и обслуживание.

Конфигурации

OLS5100-SAF (линейные измерения сшитых изображений, моторизованный XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 100 мм)

OLS5100-SMF (ручной XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 40 м)

OLS5100-LAF (моторизованный XY-столик 300x300 мм, макс. высота образца 37 мм)

OLS5100-EAF (линейные измерения сшитых изображений, моторизованный XY-столик 100x100 мм, макс. высота образца 210 мм)
Методы контрастирования
Светлое поле (BF)
Дифференциально-интерференционный контраст (DIC)
Простая поляризация (PO)
Лазерный режим
Возможность моторизации
Да
Общий коэффициент увеличения
От 54x до 17280x
Поле обзора
16 мкм — 5120 мкм
Принцип измерения

Оптическая система:
Отражательный конфокальный лазерный сканирующий микроскоп
Отражательный конфокальный лазерный сканирующий ДИК-микроскоп
Цвет: Цвет-ДИК

Фотодетектор:
Лазер: Фотоумножитель (2-канальный)
Цвет: Цветная камера с КМОП-матрицей
Измерение высоты

Разрешение экрана: 0,5 нм
Динамический диапазон: 16 бит
Воспроизводимость σn-1: 5X：0,45 мкм, 10X：0,1 мкм, 20X : 0,03 мкм, 50X : 0,012 мкм, 100X : 0,012 мкм
Погрешность: 0,15+L/100 мкм (L: измеряемая длина [мкм])
Погрешность для сшитого изображения: 10X：5,0+L/100 мкм, 20X или больше : 1,0+L/100 мкм (L: длина сшивки [мкм])
Помехи при измерении (Sq): 1 нм
Измерение ширины

Разрешение экрана: 1 нм
Воспроизводимость 3σn-1: 5X : 0,4 мкм, 10X : 0,2 мкм, 20x : 0,05 мкм, 50X : 0,04 мкм, 100X : 0,02 мкм
Погрешность: Значение измерения +/- 1,5 %
Погрешность для сшитого изображения
Максимальное количество точек измерения в одном измерении

4096×4096 пикселей
Максимальное количество точек измерения

36 мегапикселей
Источник лазерного излучения

Длина волны: 405 нм
Максимальная выходная мощность: 0,95 мВт
Класс лазера: Класс 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)
Источник цветного света

Белый светодиод